光學(xué)粗糙度儀的產(chǎn)品優(yōu)勢
日期：2024-09-19 17:35
瀏覽次數(shù)：453
摘要：
光學(xué)粗糙度儀是一種測量表面粗糙度和預(yù)測紙張可印刷性的儀器。與傳統(tǒng)的光學(xué)表面粗糙度測量方法相比，它速度更快、質(zhì)量更好、成本更低。該方法由Innventia開發(fā)，十多年來已被證明是評估紙張表面和打印缺陷之間相關(guān)性的一種出色測試方法。
優(yōu)勢：
快速光學(xué)方法——幾秒鐘內(nèi)即可生成測試報(bào)告
可印刷性綜合預(yù)測
低成本測量設(shè)備
廣泛的測量范圍
高分辨率CMOS攝像機(jī)
易于安裝和啟動(dòng)
符合人體工程學(xué)，自動(dòng)化，操作簡單
采用觸摸屏和用戶友好界面
輪廓測量配有帶材給料機(jī)
低維護(hù)量
尊敬的客戶：
本公司還有軸類測量、螺紋測量儀、TRIMOS測長機(jī)產(chǎn)品，您可以通過網(wǎng)頁撥打本公司的服務(wù)專線了解更多產(chǎn)品的詳細(xì)信息，服務(wù)是我們的追求，歡迎新老客戶放心選購自己心儀產(chǎn)品，我們將竭誠為您服務(wù)！
